| title : |
Caractérisation microstructurale des matériaux : analyse par les rayonnements X et électronique |
| Type de document : |
printed text |
| Auteur : |
Claude Esnouf, Author |
| Mention d'édition : |
1.éd |
| Editeur : |
France : Presses Polytchniques et Universitaires Romandes |
| Date de publication : |
2011 |
| Nombre de pages : |
579p. |
| Dimensions : |
24*17 |
| ISBN (ou autre code) : |
978-2-88074-884-5 |
| Note général : |
rayonnement X, matériau |
| Langue : |
French (fre) Langue originale : French (fre) |
| Indexation : |
phy |
| Résumé : |
Présentation pédagogique et exhaustive de l'ensemble des bases physiques et méthodologiques de caractérisation des matérieux utilisant les rayonnements X et électroniques, depuis l'exposé du langage spécialisé de la cristallographie jusqu'aux méthodes fines impliquant de grands instruments scientifiques. |
| Lien vers la ressource électronique : |
https://opac.centre-univ-mila.dz/z//530-59.pdf |
Caractérisation microstructurale des matériaux : analyse par les rayonnements X et électronique [printed text] / Claude Esnouf, Author . - 1.éd . - France : Presses Polytchniques et Universitaires Romandes, 2011 . - 579p. ; 24*17. ISBN : 978-2-88074-884-5 rayonnement X, matériau Langue : French ( fre) Langue originale : French ( fre)
| Indexation : |
phy |
| Résumé : |
Présentation pédagogique et exhaustive de l'ensemble des bases physiques et méthodologiques de caractérisation des matérieux utilisant les rayonnements X et électroniques, depuis l'exposé du langage spécialisé de la cristallographie jusqu'aux méthodes fines impliquant de grands instruments scientifiques. |
| Lien vers la ressource électronique : |
https://opac.centre-univ-mila.dz/z//530-59.pdf |
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